Medición de la inteligencia : exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simon

By: Terman, Lewis M. (Lewis Madison), 1877-1956Contributor(s): Calvo, Federico [traducción] | Pérez, Luis F [traducción] | México. Secretaría de Educación Pública. Biblioteca Pública [propietario anterior] | Museo Pedagógico Nacional (México) [propietario anterior]Material type: TextTextLanguage: Spanish Original language: English Publication details: Panamá : Imprenta Nacional, 1927Description: 273 páginas ; 24 cmSubject(s): Inteligencia | Pruebas mentalesLOC classification: BF431 S8 | T44
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Libro Libro Bib. Gregorio Torres Quintero
Sala de Fondos Reservados Planta alta 		Fondo Reservado de libros BF431 S8 T44 (Browse shelf(Opens below)) Disponible (Previa cita) Ejemplar con sello de la Biblioteca Pública de la SEP y de la Biblioteca del Museo Pedagógico Nacional 41240
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